膜层厚度测量是采用标准厚度片校准测厚仪对涂层厚度进行测量（因此绝大多数情况下不存在对比试片的问题）。用作校准仪器用的标准试片必须有明确的量值，并满足以下要求：
 

（1）良好的刚性，检测线圈压在上面时不会发生显著的弹压变形。
 

（2）良好的弯曲性能，当用于曲面制件表面覆盖层厚度测量时，应能与被检测对象的弧面基体形成良好的吻合。
 

膜层厚度测量用标准试片主要有两类：一类是不带有基体的薄膜（片），这类标准试片可覆盖在各种制件的基体进行仪器校准，具有良好的适用性；另一类是带有基体的标准试片，这类试片的覆盖层与基体结合为一体，但这类标准试块的使用有一定的局限性。
 

涡流测厚的精度不仅与标准厚度膜片的不确定度、基体材料的电磁特性有关，而且与标准厚度试片的选用密切相关。校准仪器使用的标准厚度片与被测量覆盖层的厚度越接近，测量结果就越准确。因此，选择涡流测厚仪时应特别关注仪器配备的标准试片的数量及其厚度与实际工作中检测对象厚度范围的相关性。