1. 放射性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民币以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

 

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。

 

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

 

4. 电解测厚法：需要破坏涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

 

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

 

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

 

 

当检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层时，我们用铝基测厚仪。

 

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。

 

当所测材料为铁基时，采用电磁感应法测量涂层的厚度。将处于工作状态下的测量探头平稳放置于被测件表面上，涂层测厚仪的探头和被测件连接，形成一个闭合的磁回路。随着探头的与被测铁磁性材料之间距离的改变，该磁性回路将产生不同程度的改变，从而引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理就可以精确地测量探头与铁磁性材料之间的距离，该距离即为所测的涂层厚度。

 

 

 

威福膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属磁性质

 

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

 

2、基体金属电性质

 

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

 

3、基体金属厚度

 

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

 

4、边缘效应

 

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

 

5、曲率

 

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

 

6、试件的变形

 

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

 

7、表面粗糙度

 

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。推荐阅读：膜厚仪的优势特点及使用时应该注意的事项

 

8、磁场

 

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。