物体的厚度是指物体的两个平行平面之间的距离，一般情况下，物体表面的微观不平，对物体厚度的测量不会造成影响。据此，金属镀层的厚度就应当是从基片与薄膜的结合平面到薄膜表面平面的垂直距离。但是由于基片与薄膜的结合面和薄膜表面是不平整的，薄膜也可能是不连续的，薄膜也可能是不连续的，而且薄膜的内部还可能存在着气孔、缺陷和杂质。所以，严格地定义和准确地测量薄膜厚度实际上是非常困难的，在膜厚实际测量中，膜层的厚度测量结果随所用测量方法而异，同一个薄膜，不同的测量方法会得到不同的测量结果。因此，应当根据金属涂膜应用目的和薄膜的性质选用适当的膜厚测量方法。
金属涂层厚度的测量对涂膜物性检测至关重要，随着科技的进步，近几年来涂膜厚度测量技术发展也十分迅速，各类测厚仪的智能化日新月异，这些测厚仪基于各种不同的原理，广泛应用到各种领域。涂膜厚度测量，方法多样，测试原理各不相同。在国家标准GB/T6463-86《金属和其他覆盖层厚度测量方法评述》中，将涂膜厚度测量分为无损法和破坏法两类。就涂膜测厚仪的应用而言，目前国内外仍普遍采用磁性法、涡流法、N射线光谱法和射线反向散射法等无损法测量。
例如涡流膜厚测厚仪，用于测量铝型材表面氧化膜或绝缘涂层厚度。这种测厚仪轻便，操作简单，性能稳定，适用于铝型材膜厚现场检测，精度±3%。而红外膜厚传感器专用于金属板带表面漆膜厚度连续检测。测量系统根据涂层的红外能量吸收原理和漆膜下的金属表面反射回的能量来测出膜厚。可测量铝容器，密封盖，饮料罐的涂层厚度测量。
